Qualité et Fiabilité des Commutateurs MEMS-RF pour des Applications Spatiales
(Document en Anglais)
- Thèse consultable sur internet, en texte intégral. Accéder au(x) document(s) :
- https://www.theses.fr/2014LIMO0062/abes
- https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01161778
- https://aurore.unilim.fr/theses/nxfile/default/f799e7d2-e871-4edf-aac4-a25c45be0dfe/blobholder:0/2014LIMO0062.pdf
- Auteur
- Lemoine Emilien
- Date de soutenance
- 11-12-2014
- Directeur(s) de thèse
- Blondy Pierre - Crunteanu-Stànescu Aurélian
- Président du jury
- Baillargeat Dominique
- Rapporteurs
- Coccetti Fabio - Martinez-Perez Jorge daniel
- Membres du jury
- Blondy Pierre - Crunteanu-Stànescu Aurelian - Vendier Olivier - Marchand Laurent - Cros Dominique
- Laboratoire
- XLIM - UMR CNRS 7252
- Ecole doctorale
- École doctorale Sciences et ingénierie pour l'information, mathématiques (Limoges ; 2009-2018)
- Etablissement de soutenance
- Limoges
- Discipline
- Electronique des Hautes Fréquences, Photonique et Systèmes
- Classification
- Sciences de l'ingénieur
- Mots-clés libres
- Fiabilité, MEMS-RF, Commutateurs, Fluage, Weibull, Banc de mesure
- Mots-clés
- Systèmes microélectromécaniques - Fiabilité
Ce manuscrit traite de la fiabilité de micro-composants électro-mécaniques que l'on appelle des MEMS (Acronyme anglais signifiant Micro-Electro-Mechanical Systems). Les MEMS sont utilisés dans un grand nombre de domaines et le domaine qui nous concerne est celui des télécommunications. Plus précisément, notre domaine de travail se situe autour des radio-fréquences où les MEMS vont principalement réaliser des fonctions de commutation. On appellera ainsi nos composants des MEMS-RF, RF signifiant Radio-Fréquence. Dans ce domaine, les MEMS sont des candidats à fort potentiel grâce à une faible consommation de puissance, leur performance dans le domaine RF, leur encombrement et leur poids. De plus, en utilisant un procédé de fabrication dérivé de celui des semi-conducteurs, leur coût de production reste relativement faible. Dans ce manuscrit, on s'intéresse à la fiabilité de ces composants car c'est le dernier verrou avant une éventuelle industrialisation. Les principaux mécanismes de défaillance sont abordés dans une première partie, puis ce manuscrit se concentre sur l'étude du fluage mécanique et des facteurs d'accélération de modes de défaillance. On verra notamment l'influence de la température et des conditions de fonctionnement sur la durée de vie des commutateurs.
- Type de contenu
- Text
- Format
Pour citer cette thèse
Lemoine Emilien, Qualité et Fiabilité des Commutateurs MEMS-RF pour des Applications Spatiales, thèse de doctorat, Limoges, Université de Limoges, 2014. Disponible sur https://aurore.unilim.fr/ori-oai-search/notice/view/2014LIMO0062