Fiche descriptive


Etude par microscopie électronique à transmission d'interfaces oxyde-oxyde à fort désaccord paramétrique : cas de couches minces de zircone sur substrat monocristallin d'alumine

(Document en Français)

Thèse de doctorat

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Informations sur les contributeurs

Auteur
Benmechta Riad
Date de soutenance
29-04-2005

Directeur(s) de thèse
Trolliard Gilles
Président du jury
BAUMARD Jean-François
Rapporteurs
MORNIROLI Jean-Paul - REDJAIMIA Abdelkrim
Membres du jury
DAUGER Alain - MERCURIO Danièle - TROLLIARD Gilles

Laboratoire
SPCTS - Science des Procédés céramiques et de Traitements de surface – UMR CNRS 7315
Ecole doctorale
École doctorale Sciences - Technologie - Santé - STS (Limoges ; ...-2009)
Etablissement de soutenance
Limoges

Informations générales

Discipline
Matériaux Céramiques et Traitements de Surface
Classification
Technologie (Sciences appliquées),
Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres
oxydes, couches minces, sol-gel (procédé), microscopie électronique, épitaxie, alumine, zircone
Mots-clés
Dépôt par laser pulséZircone -- Couches minces,
Sol-gel, Procédé - Thèses et écrits académiques,
Circuits d'interface - Thèses et écrits académiques,
Microscopie électronique en transmissionMicroscopie électronique en transmission -- Thèses et écrits académiques,
Transformations martensitiques - Thèses et écrits académiques
Résumé :

Ce travail concerne l'étude d'interfaces oxyde/oxyde à fort désaccord paramétrique. Des couches minces de zircone hétéroépitaxiées sur des substrats monocristallins (1120)sa d'alumine, sont élaborées par la méthode sol-gel. Lors de la croissance cristalline le substrat se découvre conduisant à un phénomène de mise en îlots. Les îlots plats h00 mettent en jeu une interface de type {100}Q//{11 ̅20} tandis que les îlots bombés hhh présentent une interface {111}Q // {11 ̅20}. Les îlots h00 sont plus stables que les îlots hhh. Nous montrons que la croissance cristalline est principalement gouvernée par l'orientation normale des îlots, l'orientation dans le plan n'intervenant que secondairement. Les études par microscopie électronique en haute résolution des interfaces cristallines ont permis d'élaborer des modèles cristallochimiques d'interfaces qui expliquent la raison pour laquelle l'orientation dans le plan est versatile. Ces modèles montrent que dans la cas d'interfaces hétérophases à fort misfit, le caractère ionocovalent des liaisons joue un rôle clé dans l'établissement de la relation d'hétéroépitaxie. En particulier, la souplesse du sous réseau d'anions accommode les désaccords structuraux entre les deux phases. Nos observations montrent que ces relations d'hétéroépitaxie gouvernent dans tous les cas les mécanismes de la transformation martensitique de la zircone et parfois la nature structurale de la zircone (monoclinique, quadratique ou orthorhombique).

Informations techniques

Type de contenu
Text
Format
PDF

Informations complémentaires

Entrepôt d'origine
Ressource locale
Identifiant
unilim-ori-15393
Numéro national
2005LIMO4066

Pour citer cette thèse

Benmechta Riad, Etude par microscopie électronique à transmission d'interfaces oxyde-oxyde à fort désaccord paramétrique : cas de couches minces de zircone sur substrat monocristallin d'alumine, thèse de doctorat, Limoges, Université de Limoges, 2005. Disponible sur https://aurore.unilim.fr/ori-oai-search/notice/view/unilim-ori-15393