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Etude des mécanismes mis en jeu dans la fiabilité des micro-commutateurs MEMS-RF

(Document en Français)

Accès au(x) document(s)

Modalités de diffusion de la thèse :
  • Thèse consultable sur internet, en texte intégral.
  • Accéder au(x) document(s) :
    • https://cdn.unilim.fr/files/theses-doctorat/2010LIMO4054.pdf
    Ce document est protégé en vertu du Code de la Propriété Intellectuelle.

Informations sur les contributeurs

Auteur
Mardivirin David
Date de soutenance
26-11-2010

Directeur(s) de thèse
Blondy Pierre - Pothier Arnaud
Président du jury
AUPETIT-BERTHELEMOT Christelle
Rapporteurs
BUCHAILLOT Lionel - PLANA Robert
Membres du jury
GRISON Xavier - VENDIER Olivier - PAPAIOANNOU Georgios - BLONDY Pierre - POTHIER Arnaud - FILHOL Fabien - COURTADE Frédéric - MADRANGEAS Valérie

Laboratoire
XLIM - UMR CNRS 7252
Ecole doctorale
École doctorale Sciences et Ingénierie pour l'Information, Mathématiques (Limoges ; 2009-2017)
Etablissement de soutenance
Limoges

Informations générales

Discipline
Électronique des Hautes Fréquences et Optoélectronique
Classification
Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres
dispositifs microondes, commutation (électricité), fiabilité, systèmes microélectromécaniques (MEMS)
Mots-clés
Systèmes microélectromécaniques - Fiabilité - Thèses et écrits académiques,
Commutation (électricité) - Thèses et écrits académiques,
Développement industriel -- Projets - Thèses et écrits académiques
Résumé :

Les travaux présentés dans ce manuscrit sont axés sur la caractérisation et l'analyse des mécanismes de défaillances qui apparaissent dans une nouvelle famille de composants microondes : les MEMS-RF (Systèmes Micro-Electro-Mécanique RadioFréquence). Si ces composants ont rapidement suscité beaucoup d'espoirs pour résoudre un grand nombre de verrous concernant les nouvelles architectures de communication, il est apparu que la fiabilité de ces composants a énormément ralenti leur développement industriel. De plus, ces micro-commutateurs résultent d'un couplage multi-physique qui a ajouté une forte complexité et une difficulté de compréhension de leur fonctionnement et donc leur fiabilité. Actuellement, de nombreux et intenses efforts sont réalisés par la communauté scientifique (universitaire et industrielle), car ce sujet reste ouvert à de nombreuses questions et problèmes non résolues. Ce document se propose d'apporter une contribution sur ce sujet à la fois sur le plan expérimental, théorique et technologique.

Informations techniques

Type de contenu
Text
Format
PDF

Informations complémentaires

Entrepôt d'origine
Ressource locale
Identifiant
unilim-ori-27809
Numéro national
2010LIMO4054

Pour citer cette thèse

Mardivirin David, Etude des mécanismes mis en jeu dans la fiabilité des micro-commutateurs MEMS-RF, thèse de doctorat, Limoges, Université de Limoges, 2010. Disponible sur https://aurore.unilim.fr/ori-oai-search/notice/view/unilim-ori-27809