Modélisation des essais BCI (Bulk Current Injection) pour l'aide à la pré-qualification des équipements embarqués dans la bande [10 kHz - 400 MHz]

Discipline

Électronique des Hautes Fréquences et Optoélectronique

Classification

Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres

impédance (électricité), électromagnétisme, aéronautique, certification

Mots-clés

Avions -- équipement - Essais - Thèses et écrits académiques,

Certification - Thèses et écrits académiques,

Impédance électrique - Thèses et écrits académiques

La qualification des équipements aéronautiques est une étape industrielle indispensable du fait de l'augmentation des sources de perturbation électromagnétique, des puissances mises en oeuvre mais aussi en raison du nombre et de la complexité croissante des équipements embarqués. Les recherches menées au titre de cette thèse de doctorat s'intéressent à l'élaboration d'outils orientés métiers d'aide à la pré-qualification des équipements. Pour ce faire, nous avons élaboré plusieurs outils qui, utilisés avec des codes basés sur la méthode Ligne de Transmission Multiconductrice (MTL), permettent l'évaluation des niveaux de contraintes conduites dans la bande [10 kHz - 400 MHz] dans un scénario d'injection BCI fondée sur la norme aéronautique DO160. Ainsi, l'outil principal IMEA est utilisé pour caractériser les interfaces des équipements sous test à travers la génération automatique des matrices impédances associées. Les travaux réalisés mettent aussi en évidence l'importance de la prise en compte des incertitudes liées à la quantification des paramètres géométriques et électriques de l'expérimentation BCI. Ainsi, nous montrons que cet incertain est étroitement lié à la complexité des interfaces et influence fortement la modélisation. Nous mettons en évidence les limites fréquentielles de la modélisation déterministe en fonction de cette complexité des interfaces. Dès lors, il devient judicieux d'appréhender la modélisation sous un aspect statistique dans le cas des configurations réelles. Nous évaluons alors les écarts types en fonction de la complexité des interfaces des équipements sous test.