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Par auteur = Mardivirin David
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Etude des mécanismes mis en jeu dans la fiabilité des micro-commutateurs MEMS-RF

Etude des mécanismes mis en jeu dans la fiabilité des micro-commutateurs MEMS-RF Droits d'accès : non autorisé
année de soutenance : 2010
auteur : Mardivirin David
laboratoire : XLIM
thème : Sciences de l'ingénieur
Description : Les travaux présentés dans ce manuscrit sont axés sur la caractérisation et l'analyse des mécanismes de défaillances qui apparaissent dans une nouvelle famille de composants microondes : les MEMS-RF (Systèmes Micro-Electro-Mécanique RadioFréquence). Si ces composants ont rapidement suscité beaucoup ...
  • http://aurore.unilim.fr/theses/nxfile/default/e321f18e-23a9-4448-99a0-73476cf2cc9d/blobholder:0/2010LIMO4054.pdf
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