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Par auteur = Nguyen Huu Tron
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Régularité métrique, multi-applications implicites et applications

Régularité métrique, multi-applications implicites et applications Droits d'accès : non autorisé
année de soutenance : 2012
auteur : Nguyen Huu Tron
laboratoire : XLIM
thème : Mathématiques
Description : Dans cette thèse, nous utilisons la théorie des bornes d'erreur afin d'étudier les propriétés variationnelles des multiapplications : la régularité métrique, la pseudo-Lipschitzianité, l'ouverture à taux linéaire. Nous donnons également des théorèmes de multiapplications implicites dans les espaces ...
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