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Thèses de doctorat
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Nguyen Huu Tron
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Régularité métrique, multi-applications implicites et applications
Régularité métrique, multi-applications implicites et applications
année de soutenance
:
2012
auteur
:
Nguyen Huu Tron
laboratoire
:
XLIM
thème
:
Mathématiques
Description
:
Dans cette thèse, nous utilisons la théorie des bornes d'erreur afin d'étudier les propriétés variationnelles des multiapplications : la régularité métrique, la pseudo-Lipschitzianité, l'ouverture à taux linéaire. Nous donnons également des théorèmes de multiapplications implicites dans les espaces ...
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