Contribution à l'analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants : Caractérisation et modélisation des étages d'entrée des circuits intégrés numériques
(Document en Français)
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- Auteur
- Kane Ibrahim
- Date de soutenance
- 21-12-2016
- Directeur(s) de thèse
- Reineix Alain - Torres François
- Président du jury
- Barelaud Bruno
- Rapporteurs
- Duchamp Geneviève - Ndagijamana Fabien
- Membres du jury
- Reineix Alain - Torres François - Hoffmann Patrick
- Laboratoire
- XLIM - UMR CNRS 7252
- Ecole doctorale
- École doctorale Sciences et ingénierie pour l'information, mathématiques (Limoges ; 2009-2018)
- Etablissement de soutenance
- Limoges
- Discipline
- Electronique des hautes fréquences, photonique et systèmes
- Classification
- Sciences de l'ingénieur
- Mots-clés libres
- CEM des composants, Susceptibilité électromagnétique, IEMI, Étages d'entrée, Inverseurs CMOS, Modélisation circuit, Simulation transitoire SPICE
- Mots-clés
- Composants électroniques - Protection,
- Susceptibilité magnétique - Simulation, Méthodes de,
- Compatibilité électromagnétique,
- Circuits intégrés numériques
La prolifération des composants électroniques fait que l'étude de leur vulnérabilité face à des agressions électromagnétiques intentionnelles ou non devient de plus en plus préoccupante. Notre étude s'inscrit dans ce contexte et s'oriente plus particulièrement vers les composants numériques. Ces derniers incorporent généralement, à toutes leurs interfaces d'entrée et de sortie, des éléments de protection contre les décharges électrostatiques permettant d'éliminer tout signal se présentant avec une amplitude élevée. Cependant, les signaux perturbateurs peuvent avoir des amplitudes moindres mais des formes d'onde complexes et capables de causer des dysfonctionnements à ces composants numériques sans activer les protections. Dans ce cas, les étages d'entrée se retrouvent au premier plan et leur comportement face à ces signaux perturbateurs peut altérer la fonctionnalité globale du circuit. Ainsi, nous nous sommes proposés d'étudier et de modéliser les comportements de ces étages d'entrée face à ces types d'agressions. Une première étape a consisté à définir une plateforme d'expérimentation pour les composants numériques. Une sélection des types de composants de test a d'abord été effectuée et le choix s'est porté naturellement sur l'inverseur CMOS, car il est présent sur la quasi-totalité des étages d'entrée, et sa structure est simple et connue. Le choix de cette technologie est également dicté par sa simplicité et son omniprésence dans les équipements électroniques actuels. Différents types de signaux perturbateurs ont été appliqués à ces inverseurs CMOS afin d'observer et de relever leurs comportements typiques et particuliers. Ensuite, à partir des résultats expérimentaux, un modèle SPICE comportemental et générique des inverseurs CMOS a été créé. Différents types de modèles de composants numériques existent mais le type SPICE est le seul à expliciter leur architecture complète. En effet, pour des raisons liées aux propriétés intellectuelles, les fabricants sont généralement discrets sur les structures internes de leurs circuits intégrés. Par contre, ces modèles SPICE ne sont à priori valables que dans des limites de fonctionnement définis par les fabricants. Nous avons apporté diverses modifications à ce modèle afin d'incorporer les comportements observés en dehors des limites de fonctionnement des inverseurs CMOS. Le besoin de trouver un modèle générique a imposé d'étudier un grand nombre d'échantillons d'inverseurs CMOS de différents fabricants et de différentes familles technologies. Enfin, une synthèse des résultats de simulations et des modèles, en fonction des fabricants et des familles technologiques, a été réalisée sous forme d'un tableau récapitulatif.
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Pour citer cette thèse
Kane Ibrahim, Contribution à l'analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants : Caractérisation et modélisation des étages d'entrée des circuits intégrés numériques, thèse de doctorat, Limoges, Université de Limoges, 2016. Disponible sur https://aurore.unilim.fr/ori-oai-search/notice/view/2016LIMO0119