Développement de bancs de tests dédiés à la modélisation comportementale d’amplificateurs de puissance RF et micro-ondes
(Document en Français)
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- Auteur
- Gapillout Damien
- Date de soutenance
- 15-11-2017
- Directeur(s) de thèse
- Ngoya Edouard - Mons Sébastien
- Président du jury
- Barataud Denis
- Rapporteurs
- Bergeault Eric - Baudoin Geneviève
- Membres du jury
- Ngoya Edouard - Mons Sébastien - Le nezet Johann - Sombrin Jacques - Mazière Christophe - Reveyrand Tibault
- Laboratoire
- XLIM - UMR CNRS 7252
- Ecole doctorale
- École doctorale Sciences et ingénierie pour l'information, mathématiques (Limoges ; 2009-2018)
- Etablissement de soutenance
- Limoges
- Discipline
- Electronique des Hautes Fréquences, Photonique et Systèmes
- Classification
- Sciences de l'ingénieur
- Mots-clés libres
- Amplificateur de puissance, Modélisation comportementale, Séries de Volterra, Mémoire non-linéaire, Banc de mesure, NVNA, VNA
- Mots-clés
- Amplificateurs de puissance - Essais,
- Amplificateurs haute fréquence - Simulation, Méthodes de,
- Amplificateurs microondes - Simulation, Méthodes de
Le travail présenté dans ce manuscrit a pour objet l’étude et le développement d’un banc de caractérisation généraliste appliqué à l’extraction du modèle comportemental d’amplificateur TPM-NIM (Two-Path Memory Nonlinear Integral). Ce modèle qui dispose d’une des architectures les plus abouties au laboratoire XLIM requiert une instrumentation microonde haut de gamme, très onéreuse, hors de portée de la majorité des concepteurs pour sa mise en œuvre expérimentale. L’objectif est donc de proposer des principes de mesure originaux permettant d’identifier le modèle TPM-NIM avec une instrumentation standard. Dans ces travaux, deux bancs sont présentés : tout d’abord, un banc de caractérisation développé autour d’une instrumentation de pointe disposant des meilleures propriétés pour extraire le modèle. Puis, un banc construit autour d’une instrumentation standard mais incluant des méthodes de traitement et de mesure novatrices. Ces deux bancs ont été utilisés avec plusieurs véhicules de tests et il ressort que le second permet de diminuer le bruit des mesures de phase tout en réduisant le coût total des équipements. Enfin, une dernière partie est consacrée à la comparaison du modèle TPM-NIM avec deux modèles comportementaux classiques mettant en avant sa polyvalence.
- Type de contenu
- Text
- Format
Pour citer cette thèse
Gapillout Damien, Développement de bancs de tests dédiés à la modélisation comportementale d’amplificateurs de puissance RF et micro-ondes, thèse de doctorat, Limoges, Université de Limoges, 2017. Disponible sur https://aurore.unilim.fr/ori-oai-search/notice/view/2017LIMO0071