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Développement de bancs de tests dédiés à la modélisation comportementale d’amplificateurs de puissance RF et micro-ondes

Développement de bancs de tests dédiés à la modélisation comportementale d’amplificateurs de puissance RF et micro-ondes Droits d'accès : non autorisé
année de soutenance : 2017
auteur : Gapillout Damien
laboratoire : XLIM
thème : Sciences de l'ingénieur
Description : Le travail présenté dans ce manuscrit a pour objet l’étude et le développement d’un banc de caractérisation généraliste appliqué à l’extraction du modèle comportemental d’amplificateur TPM-NIM (Two-Path Memory Nonlinear Integral). Ce modèle qui dispose d’une des architectures les plus abouties au lab ...