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Contribution à l'analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants : Caractérisation et modélisation des étages d'entrée des circuits intégrés numériques

Contribution à l'analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants : Caractérisation et modélisation des étages d'entrée des circuits intégrés numériques Droits d'accès : non autorisé
année de soutenance : 2016
auteur : Kane Ibrahim
laboratoire : XLIM
thème : Sciences de l'ingénieur
Description : La prolifération des composants électroniques fait que l'étude de leur vulnérabilité face à des agressions électromagnétiques intentionnelles ou non devient de plus en plus préoccupante. Notre étude s'inscrit dans ce contexte et s'oriente plus particulièrement vers les composants numériques. Ces der ...